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超高分辨率超声相控阵探伤仪

型号:M2M GEKKO

产品时间:2020-10-19

简要描述:

M2M GEKKO是一款超高分辨率超声相控阵探伤仪,专为先进的超声相控阵、实时全聚焦TFM的快速设置和成像而设计,能满足快速检测需求。成为一款多功能、数据传输快、分析准确的在线检测仪,满足不同客户需求。

详细介绍

超高分辨率超声相控阵探伤仪

技术规格 

 

规格 (长x 宽 x 高):

400.5 mm x 273 mm x 131.5 mm

重量:

6.5 kg (13.2 lb) 含电池

适配电源 - 15V, 5.67A

标配256GB 固态硬盘可扩展至1TB

1IPEX 相控阵接口

LEMO 00 常规超声接口 (4P/R)

10.4 英寸. 高灵敏电阻式触摸屏

1024x768像素高亮屏幕

支持3-轴编码器同步联动

12 TTL (5V/24V) - 个可开发数字接口

USB 2.0 – 1 USB 3.0

个显示输出端口(Micro DP

支持无线连接*

高速网口连接

相控

 

PAUT 通道配置 : 32:128PR, 64:64 

64:128PR

多达组应用 多达 2048 个聚焦法则

激活孔径: 64 晶片*

CIVA 聚焦法则计算引擎

支持线阵,面阵, 双晶线阵和双晶面阵探头

支持板材,管材,TKY焊缝,插管焊缝检测

线性扫描,扇形扫描,复合扫描,CIVA 工艺导入

深度聚焦,声程聚焦,投影聚焦

 脉冲装

 

相控阵通道1

 

双极性方波

电压从12 V到120 V可调(1 V步进)

脉冲下降时间 < 6 ns

UT-TOFD 通道2

负方波脉冲

电压从 12 V 到 200 V可调 (1 V 步进)

脉冲宽度从 30 ns 到 1250 ns 1ns 步进)

脉冲下降时间 < 5 ns

  数字转换

 

最多在 64个通道上进行并行数据处理

数据位深:16 bits

FIR过滤器

采样频率100 MHz

A扫实时平均: x32

检波,射频RFA扫包络

A扫数据点数:65000

 

 

   运行环

 

工作温度范围:

-10 °C to 45 °C

储存温度范围:

-20 °C to 60 °C 带电池

-20 °C to 70 °C 不带电池

防护等级:IP66

通过MIL-STD-810G坠落测试

相对湿度 70%

ISO18563-1:2015 ; EN 12668-1:2010认证

  

 

块锂电池

电池容量94 Wh

高达6小时运行时长

支持热插拔

  MC/ TFM*

实时TFM 成像:128 晶片*

图像分辨率高达 1百万像素点

每秒 110 幅结果

直入射,折射和波形转换模式

实时自适应TFM (ATFM)模块**

FMC 全捕捉数据记录

 

支持所有幅值校准工具

分辨率8档可调, 个自动分辨率

  接收

 

相控阵通道1

输入电阻 50 ?

频率范围 - 0.4 MHz 至 20 MHz

输入信号 2 Vpp

增益达120 dB (0.1 dB 步进)

UT-TOFD 通道2

 

输入电阻 50 ?

频率范围 - 0.6 MHz 到 25 MHz

增益达120 dB (0.1 dB 步进)

  

 

支持硬件采集闸门

A扫全波记录/峰值数据记录

脉冲重复频率PRF 40 kHz

数据压缩高达 x32

固态硬盘记录速度可达 180 MB/s

文件数据大小: 无限制

数据丢失率记算功能

实时 3D/数据工件叠加显示

 

 


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